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產品詳細說明
MA xxx 系列測試治具適用于對數量較小而型號多樣的電子組件進行觸探或閃存編程。該測試治具設計作為替換套件系統，可與現有測試系統連接，并通過專門針對被測電子組件而擴展的替換套件運行。
替換套件系統
側面開放式壓緊裝置
可堆垛、可完全取下的下部開放式外殼
可任意定義的內部接口
可提供標準型和 ESD 型替換套件，并可在無需任何工具的情況下快速安裝，無需后續調校即可使用
壓緊裝置和探針支承單元可用螺絲固定為*個整體，使針床受到保護（以便儲存/運輸）
使用壽命：300,000 次負載循環（在實驗室條件下）
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