MA 21xx 系列測試治具適用于對數(shù)量中等而型號較多的電子組件進(jìn)行觸探。該測試治具設(shè)計(jì)作為替換套件系統(tǒng),可與現(xiàn)有測試系統(tǒng)連接,并通過專門針對被測電子組件而擴(kuò)展的替換套件運(yùn)行。其具有以下產(chǎn)品特性:
替換套件系統(tǒng)
高達(dá) 2,000 N 的高接觸力
省力的終端位置阻尼開啟機(jī)構(gòu)
可進(jìn)行模塊化配置的內(nèi)部接口
無需工具即可快速設(shè)置替換套件,無需后續(xù)調(diào)校即可使用
帶或不帶測試系統(tǒng)接口
壓緊裝置和探針支承單元可用螺絲固定為*個(gè)整體,使針床受到保護(hù)(以便儲存/運(yùn)輸)
使用壽命:500,000 次負(fù)載循環(huán)(在實(shí)驗(yàn)室條件下