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產品詳細說明
全新革命性的垂直同步雙觀測（DSOI）技術，使傳統的徑向等離子體觀測儀器的靈敏度提高了數倍。
TI技術帶來的高靈敏度，能夠實現對痕量元素進行測量，即使在充滿挑戰性的環境基體也能確保準確度，避免基體干擾。
新推出的GigE讀出系統，能夠在不到100毫秒的時間內收集、傳輸光譜及數據，從而加快分析速度，縮短了樣品切換的時間，使單位時間內的樣品分析數量大大增加。
靈敏及響應快速的LDMOS發生器，不需要外部冷卻：具有分析高重的復雜基體的能力 -- 而無需稀釋樣品 – 儀器開機速度快（約10分鐘）-- 生產率高
全新New SPECTRO ICP Analyzer Pro 操作軟件采用了簡單直觀的界面，易于使用
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