CMX v2.0 具有 ZX 儀表的所有功能以及大量高*功能。同時(shí)測(cè)量材料和涂層厚度,同時(shí)仍以單*模式 (PECT) 檢測(cè)凹坑和缺陷。還包括自動(dòng)探頭調(diào)零、自動(dòng)探頭識(shí)別、自動(dòng)溫度補(bǔ)償。還提供可選大數(shù)字和 B 掃描顯示選項(xiàng)、多達(dá) 64 個(gè)自定義用戶定義設(shè)置、用于精確線性的可選傳感器表以及材料和涂層校準(zhǔn)選項(xiàng)。
我們的標(biāo)準(zhǔn)直通繪畫(huà)模式仍然包含在內(nèi)并且正在進(jìn)行中。根據(jù)識(shí)別或手動(dòng)選擇的傳感器在模式之間切換。5 位 12dB 增益開(kāi)關(guān)允許用戶根據(jù)某些材料類型進(jìn)行調(diào)整,并在常見(jiàn)但困難的應(yīng)用場(chǎng)景中取得成功。內(nèi)置 TDG(時(shí)間相關(guān)增益)功能已納入我們的傳感器列表中,可與衰減材料*起使用。該儀表確實(shí)具有大量功能和附加優(yōu)勢(shì)。它全部被精美地包裝在*個(gè)小型便攜式鋁擠壓件中,以提供額外的耐用性。USB-C 連接、4GB 內(nèi)部 SD 內(nèi)存(帶文件系統(tǒng))。屏幕截圖為 .tif。我們基于 Java 的 DakView PC 或 MAC OSX 軟件也是該套件的*部分。